Pinnacle光学式坐标测量仪

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Pinnacle光学式坐标测量仪

产地：上海

品牌：奥智品

编码：0

Pinnacle光学式坐标测量仪，高精度合式测量系统 ·U2（XY平面）=（2.0+L/250）μm ·分辨率 0.1μm ·两个不同倍率光学系统 ·具有专利权的可编程环光(PRL) ·Windows 2000操作系统 ·自定义客户界面 ·独有的边缘寻边的算法程序

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